Oberflächenanalytik
und Mikroskopie
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Elektronenmikroskopie
(REM-EDX)
Das Rasterelektronenmikroskop (REM) ist ein Gerät zur Abbildung von Oberflächenstrukturen. Man erhält Bilder hoher Auflösung und Tiefenschärfe. Zusätzlich kann die Verteilung verschiedener Materialien visualisiert werden. Mit Hilfe der Energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDX) kann außerdem die lokale Elementzusammensetzung der verschiedenen Probenbereiche analysiert werden.
Anwendungsgebiete
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Aufbau und Zusammensetzung von Bauteilen
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Schadensfallanalytik
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Flecken und Verunreinigungen
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Analyse von Wettbewerbsprodukten
Oberflächenanalytik
(ESCA)
Elektronen-Spektroskopie für Chemische Analyse (auch XPS) analysiert (semiquantitativ) die Elementzusammensetzung der obersten Nanometer (10-15 Atomlagen) von Festkörpern.
Das Verfahren liefert zusätzlich Informationen über die Bindungszustände der Elemente. Das Abtragen der Schichten durch Sputtern erlaubt die Messung der Tiefenverteilung von Elementen (Tiefenprofil).
Anwendungsgebiete
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Haftung
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Benetzungsprobleme
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Lackablösung
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Oberflächen- und Grenzflächencharakterisierung
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Korrosionsschutz
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Reaktivität von Katalysatoren
Molekülspektroskopie (IR/Raman/UV-Vis)
In der Molekülspektroskopie kommt es zu einer Absorption bzw. Streuung des einstrahlenden Lichtes. Diese ist charakteristisch für bestimmte Molekülfragmente. Die aufgenommenen Spektren zeigen für bestimmte Molekülbestandteile spezifische Banden, wodurch sich besonders organische Materialien identifizieren lassen.
Anwendungsgebiete
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Analyse organischer Bauteile
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Polymercharakterisierung
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Schadensfallanalytik
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Flecken und Verunreinigungen
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Analyse von Wettbewerbsprodukten
Rauheitsmessung
Mithilfe eines Phertometers wird die Oberfläche der Probe mit einer Nadel definierter Geometrie abgetastet und standardisierte Rauheitskenngrößen berechnet.
Anwendungsgebiete
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Profil
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Welligkeit und Rauheit
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mittlere Rauheit
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Traganteil
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Rautiefe